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       近幾年來是光電直讀光譜儀發(fā)展比較迅猛的幾年，早幾年前市場(chǎng)上的光電直讀光譜儀機(jī)型采用的都是用光電倍增管作為檢測(cè)器，但是近幾年，進(jìn)口品牌及國內(nèi)品牌不約而同采用CCD作為檢測(cè)器，后又采用CMOS，但CCD及CMOS其實(shí)概念是同樣的，此種光譜儀器在快速發(fā)展。

       近年來CCD技術(shù)得到較好的發(fā)展，幾乎所有進(jìn)口品牌推出了CCD產(chǎn)品。CCD和PMT是業(yè)界爭(zhēng)論的一個(gè)焦點(diǎn)，私認(rèn)為這兩種技術(shù)不能簡(jiǎn)單評(píng)判哪種更好，而是各有各的優(yōu)勢(shì)和局限性。PMT 有著噪聲低、動(dòng)態(tài)范圍大等特點(diǎn)，應(yīng)用比CCD要久遠(yuǎn)的多，但既然CCD能夠進(jìn)入光譜分析領(lǐng)域，一定程度上代替PMT，一定有其特有的優(yōu)勢(shì)，而這種優(yōu)勢(shì)就在于測(cè)量上，它為火花直讀光譜分析技術(shù)的發(fā)展提供了更多的可能性。它能做全譜檢測(cè)，同時(shí)在后期增加檢測(cè)基體時(shí)，也不用返廠重新進(jìn)行物理更新，只需做軟件上的維護(hù)。目前，CCD技術(shù)已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用，多種檢測(cè)儀器上均采用此類檢測(cè)器。

CCD檢測(cè)器

       CCD成為光譜分析儀器的重要發(fā)展方向，這一點(diǎn)已經(jīng)得到絕大多數(shù)人的認(rèn)可，但CCD技術(shù)的廣泛利用，并不意味著PMT技術(shù)的沒落，PMT技術(shù)在目前還是有其優(yōu)勢(shì)的。任何一種新技術(shù)取代舊技術(shù)都需要一個(gè)過程。CCD面臨的主要問題是噪聲和讀出速度，如果這兩點(diǎn)能夠得到很好的解決，PMT很可能會(huì)退出直讀光譜市場(chǎng)。當(dāng)然現(xiàn)在的CCD廠商都在努力克服此兩種缺點(diǎn)，并有一定成效。目前，ICP儀器上CCD通過制冷很好的解決了噪聲的問題，基本取代了PMT，在火花直讀光譜領(lǐng)域，CCD一定也能獲得相同的成績(jī)。